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2018 參展上海Semicon 盛況分享

德國 PVA & 科視達攜手參展 2018 上海 Semicon 展會德國原廠技術(shù)專家蒞臨指導參展機型 SAM 300 B參展機型 SAM 302 HD2德國技術(shù)專家 Mr.Zyzi Auto Wafer 300 全自動晶圓鍵合超聲掃描檢測系統(tǒng)SAM 302 HD2 HiSA 翹曲樣品告訴實時自動對焦及 DTS 高分辨動態(tài)透射掃描

2018-04-18

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德國 PVA & 科視達攜手參展 2018 上海 Semicon 展會

近年來，德國PVA TePla憑借在超聲波掃描顯微鏡（SAM）領(lǐng)域內(nèi)不斷創(chuàng)新的、卓越的領(lǐng)先技術(shù)、優(yōu)異穩(wěn)定的產(chǎn)品質(zhì)量、優(yōu)質(zhì)的售后服務，被廣大的中國用戶群所認可。德國PVA TePla近年更不斷推出適合半導體領(lǐng)域的最尖端的超聲檢測設(shè)備，并在中國同步展出和銷售。為此，我們科視達®和德國 PVA TePla廠商鄭重邀請您參加將于2018年3月14日至3月16日 “2018 上海Semicon 展會”。時間： 2018年3月14日星期三——3月16日星期五地點：上海浦東新國際展覽中心上海浦東龍陽路 2345號展位號： N2 - N2627 PVA TePla & Questar 科視達展出機型：1. SAM 302 HD2 – 超高速實時自動聚焦 HiSA & 高分辨率動態(tài)透射掃描 DTS 2. SAM 300 B – 展示最新軟件 Winsam 8 & Hot Matching Receiver透射掃描

2018-04-18

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2017 參展上海 Semicon 盛況分享

德國 PVA & 科視達攜手參展 2017 上海 Semicon 展會技術(shù)專家蒞臨指導參展機型 SAM 300

2017-03-22

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哪些原因會影響超聲波檢測儀的檢測結(jié)果？

由于超聲波檢測儀具有十分精確的檢測效果，所以現(xiàn)在很多生產(chǎn)企業(yè)都會從采購優(yōu)質(zhì)超聲波檢測儀來對產(chǎn)品做檢測，但是，有時候工作人員會發(fā)現(xiàn)檢測的結(jié)果并沒有達到預期的標準，那么，是什么原因?qū)е碌哪兀肯旅婢陀沙暡z測儀廠家來介紹哪些原因會影響檢測的結(jié)果。1、頻率選擇的不正確超聲波檢測儀可以發(fā)出的超聲波頻率是有一個范圍的，如果選擇的頻率不正確那就會影響產(chǎn)品檢測的效果。因為頻率的高低會導致產(chǎn)品接受到的超聲波信息量過多或不足，再反饋的時候，超聲波檢測儀接收的反饋聲波信息就會有一定程度的失真。2、功率選擇的不合適超聲波檢測儀的功率對檢測效果也有著非常重要的影響，因為功率會影響超聲波檢測儀中傳感器的激勵脈沖以及接收狀況，如果使用了不合理的功率就會導致對產(chǎn)品的檢測達不到預期目標，所以，在檢測之前應該先根據(jù)實際的檢測修來調(diào)整合適的超聲波功率以便達到好的檢測效果。3、產(chǎn)品的表面過于粗糙在使用超聲波檢測儀做檢測的時候，產(chǎn)品表面越光滑就越容易和檢測儀的探頭耦合，反之，耦合效果就會不良，反射回波較低，甚至還會出現(xiàn)接收不到回波信息的情況，所以，要想達到準確的檢測結(jié)果，產(chǎn)品表面就應該避免太粗糙，如果有銹蝕情況可以先將其處理光滑在檢測。超聲波檢測儀廠家在上文中為大家介紹了幾個容易導致檢測結(jié)果不佳的原因，通過簡單的介紹大家就可以了解到，雖然超聲波檢測儀是一種非常好用的、無損性的檢測工具，但是，如果不正確的去使用也會導致檢測結(jié)果出現(xiàn)失誤，所以一定要避免以上這幾個因素。

2018-12-15

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使用超聲波掃描顯微鏡的注意事項

超聲波掃描顯微鏡是在顯微鏡的基礎(chǔ)上進行技術(shù)的創(chuàng)新和產(chǎn)品的升級，其融入了超聲波技術(shù)對掃描顯微鏡的清晰度和探索度都有幫助，超聲波技術(shù)也屬于科技領(lǐng)域較為高級的科技，那么購買者在使用超聲波掃描顯微鏡時需要了解的注意事項有哪些？一、注意在使用超聲波顯微鏡時不要攜帶金屬制品由于超聲波掃描顯微鏡是使用超聲波技術(shù)進行物品的觀察記錄，而超聲波與金屬制品會產(chǎn)生物理反應導致一些不安全的事件發(fā)生。因此各位使用者在對掃描顯微鏡進行操作時可以先檢查自身，注意細小的零件設(shè)備例如手表項鏈等容易被忽略的生活用品。二、注意在使用時應該穿戴好專業(yè)的設(shè)備衣物關(guān)于超聲波掃描顯微鏡哪家比較專業(yè)這個話題的討論可以通過許多細節(jié)得出答案，專業(yè)生產(chǎn)超聲波掃描顯微鏡的品牌肯定明白應該如何使用顯微鏡，因此購買者只需查看該品牌是否在使用時穿戴好專業(yè)的設(shè)備服裝，并且是否擁有專業(yè)的團隊提供協(xié)助就能夠明白該品牌的專業(yè)度。三、注意使用時的觀察樣品應該擺放在專門位置購買者在使用超聲波掃描顯微鏡對樣品玻片進行觀察掃描時，應該注意樣品的擺放位置是否完好的待在其應該待的位置，因為顯微鏡的鏡頭無法以圓為中心的移動，因此觀察的范圍就比較的固定和死板，因此假若觀察樣品沒有擺放在專門位置可能就無法看到內(nèi)在結(jié)構(gòu)。超聲波掃描顯微鏡有哪些牌子是各位購買者的日常討論中亙古不變的話題，使用超聲波掃描顯微鏡時不僅需要注意在使用超聲波顯微鏡時不要攜帶金屬制品，而且購買者還需注意在使用時應該穿戴好專業(yè)的設(shè)備衣物，同時還需注意使用時的觀察樣品應該擺放在專門位置。

2018-12-06

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選擇超聲波掃描顯微鏡的好處有哪些

各位購買者對于超聲波掃描顯微鏡哪家比較專業(yè)這個問題相當?shù)目鄲篮秃闷妫暡⊕呙栾@微鏡這一在科技領(lǐng)域獲得重大機械突破的創(chuàng)作，也受到了許多微觀愛好者對于更高清晰度分辨度的追捧和喜愛，那么對于不了解顯微鏡的購買者來說選擇超聲波掃描顯微鏡的好處有哪些？一、能夠更加清晰的了解觀察樣品超聲波掃描顯微鏡相比于光學顯微鏡擁有著更高的分辨率和清晰度，在觀察同一物品時使用超聲波顯微鏡能夠比光學顯微鏡的觀察度更高，也能夠保證所觀察物品的細節(jié)和微小分子能夠被購買者捕捉，相比光學顯微鏡在清晰度方面的比拼超聲波顯微鏡顯然更勝一籌。二、能夠觀測到普通顯微鏡無法突破的微小物質(zhì)超聲波掃描顯微鏡擁有著更高的掃描頻率和分辨率，由于光學顯微鏡的觀察樣品是有著尺寸范圍的，小于納米范圍及其以下的觀察對象光學顯微鏡是無法捕捉和放大的，而使用超聲波顯微鏡就能夠較為輕松的解決觀察對象尺寸過于微小的難題。三、觀察樣品的制作過程也更加方便快捷超聲波掃描顯微鏡在樣品的制作方面并不像普通顯微鏡那樣麻煩繁瑣準備工作冗長，只需進行簡單的裝片和安裝在合適的觀察位置就完成了，而光學顯微鏡等普通的顯微鏡在進行觀察前需將樣品切成薄片，它們才能夠進行較好的觀察和處理該樣品的細節(jié)。超聲波掃描顯微鏡哪家生產(chǎn)的好需要消費者用時間和精力去尋求真實的答案，購買者選擇超聲波掃描顯微鏡不僅能夠更加清晰的了解觀察樣品，而且還能夠觀測到普通顯微鏡無法突破的微小物質(zhì)，同時可以保證觀察樣品的制作過程更加的方便快捷。

2018-12-06

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利用C-SAM進行分析有哪些好處

c-sam超聲波檢測是指利用超聲波顯微鏡進行專業(yè)檢測，許多人將超聲波檢測與其他同類檢測相混淆，此種檢測是根據(jù)不同密度材料的反射速率進行深度分析，所以它的分析精度高且錯誤率低，而C-SAM的傳輸信號即為超聲波，眾所周知超聲波的抑制界面較少而且穿透率較高，那么C-SAM檢測具有哪些優(yōu)勢呢？一、限制性較小小編注意到目前應用C-SAM檢測的領(lǐng)域涵蓋了塑料封裝IC以及各種晶片和pcb行業(yè)、LED生產(chǎn)行業(yè)，可知對C-SAM檢測的限制較小，尤其檢測裂紋缺陷以及空洞分層或者金屬基板的各種問題時采用C-SAM檢測要明顯優(yōu)于同類檢測，應用范圍廣且對行業(yè)限制小是C-SAM檢測的重要優(yōu)勢。二、測試簡單傳統(tǒng)同類設(shè)備測試中效率有待提高，而使用C-SAM檢測的測試步驟則大大簡化，確認樣品類型后僅需選擇相應的頻率探頭，再將其放置測量裝置當中讓C-SAM檢測工具正常開機并順利進入掃描模式，即可對圖像進行深度掃描，自動化缺陷分析讓測試更加簡單。三、分析更透徹完整清晰有許多使用C-SAM檢測設(shè)備的場所通過無損檢測或切片分析以及各種可靠性測試，讓相關(guān)人員更加透徹和完整的判斷測試的準確性，這均得益于超聲波掃描顯微鏡C-SAM檢測設(shè)備的分析更加透徹，能夠?qū)⒂跋襁M行固定后讓各種檢測均可完整的呈現(xiàn)，技術(shù)人員根據(jù)圖像判斷整個分析是否可靠。所以通過C-SAM檢測設(shè)備來驗證材料缺陷并且成像是目前較先進的技術(shù)，之所以通過C-SAM檢測便是利用其不同材料不同密度的分析特性讓分析結(jié)果更加準確。綜上可知C-SAM檢測缺陷、確定確切方位和尺寸多種功能讓各種無損檢測效率更高精度更高。

2018-11-28

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通過C-SAM進行失效分析的常用手段

小編注意到有諸多汽車零部件生產(chǎn)行業(yè)、模具制造等行業(yè)均需要使用C-SAM檢測設(shè)備進行金屬材料的零部件失效測試，該種測試分析可以分析出常見的失效模式，包含了斷裂失效、腐蝕失效以及磨損失效等。尤其對于精密零件制造行業(yè)來說斷裂失效分析是提高工藝品質(zhì)的關(guān)鍵，下面小編就告訴您通過c-sam超聲波檢測設(shè)備進行金屬材料零部件失效分析的幾種常用手段。一、斷口分析據(jù)C-SAM檢測設(shè)備生產(chǎn)廠家介紹此種斷口分析是極其常用的失效分析方法，顧名思義便是分析斷裂源，因為通過C-SAM檢測分析設(shè)備可以分析出斷口特征的形貌，并且通過高清放大解理斷裂和沿晶斷裂還原失效的過程以及所呈現(xiàn)出的特征與失效間的相互關(guān)系。二、金相組織分析通過超聲波掃描顯微鏡C-SAM分析設(shè)備進行金相組織分析，主要是以評估組織級別以及工藝的匹配程度等酌情分析，還可以讓斷裂等級分析更加精準，通過C-SAM設(shè)備進行金相組織分析中可以明顯的看鋅鋁合金過時失效的具體形態(tài)以及析出量和形狀的改變過程，能夠使研發(fā)人員得知失效過程及原因。三、痕跡分析比如以汽車模具的生產(chǎn)為例，如果要使模具的耐用性大大提高就必須提高其耐擦劃耐磨損的性能，通過C-SAM設(shè)備進行金屬材料及零部件的失效分析可迅速的判斷使用環(huán)境以及模具的成型中的交互性影響，能夠判斷各種原因留下的痕跡以及對于材料構(gòu)成何種等級的影響。以上幾種便是C-SAM分析設(shè)備的常見分析方法，對特殊零部件和金屬材料還會做極表面分析，即對表面的腐蝕物和微量異物等進行定量分析，通過C-SAM分析設(shè)備能夠分析各種不同的缺陷及失效問題，綜上可知C-SAM分析設(shè)備的精度高而且應用性極強。

2018-11-21

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影響超聲波檢測儀準確度的因素有哪些

在使用超聲波檢測儀對相關(guān)的材料或者是產(chǎn)品進行檢查的時候，還是要把握住外界環(huán)境的一些因素才能夠測量出更加準確的數(shù)值。因為利用超聲波反射原理的時候，還會受到其中的一些因素影響，只要調(diào)整到這家的外界條件才能使測量出的數(shù)值更加精準，具體其影響因素包括以下幾個方面。一、溫度的影響因為超聲波本身的速度會受到溫度的影響，超聲波檢測儀廠家介紹比如固體材料當中超聲波的傳達速度會隨著溫度的升高而降低。并且超聲波檢測儀廠家介紹有人進行了這樣的試驗，發(fā)現(xiàn)比較特殊的熱態(tài)材料溫度升高一百度時超聲波的速度會非常明顯的下降百分一，因此在高溫的環(huán)境當中進行檢測經(jīng)常會碰到這樣的情況，所以超聲波檢測儀廠家提醒應該要把這樣的因素計算在內(nèi)進行檢測，并且應該要使用高溫專用探頭才能夠保證檢測的準確性。二、耦合劑的影響在利用超聲波檢測儀進行檢查的時候，很多情況下都要使用到耦合劑這樣就可以把檢測得過程中中的空氣排除掉。因此超聲波檢測儀廠家介紹比如在檢測光滑材料表面時可以使用低粘度的耦合劑，如果表面極為粗糙或者是垂直表面等情況時，那么建議采用粘度高的耦合劑等等。三、應力的影響根據(jù)實際的應用情況，在很多的設(shè)備以及管道的很多部委都有應力存在，廠家強調(diào)超聲波檢測儀特別是固體材料的應力情況會對超聲波速度產(chǎn)生影響，如果應力的方向和聲波傳播的方向一致，那么聲波就會加快，相反則會變慢。超聲檢測設(shè)備廠家發(fā)現(xiàn)特別是應力和聲波傳播方向不一致的時候，還會對超聲波產(chǎn)生一定的干擾，使它的檢查方向產(chǎn)生偏移，因此在檢測過程當中應該盡可能的，避免應力作用的影響以便能夠測出更加準確的結(jié)果。　以上就是影響超聲波檢測儀準確度的因素所體現(xiàn)的幾個主要的方面，此外還有金屬表面氧化物或者油漆覆蓋層也會帶來一定的影響。超聲波檢測儀廠家介紹一般情況下設(shè)備或者工件的表面都會采取一定的方式來保護，雖然像油漆防腐層之類的情況和機體材料貼合的非常緊密，但還是會影響到超聲波的檢測從而...

2018-09-20

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科視達攜手德國 PVA & Sentronics, 共同參展 2017 上海 Semicon

近年來，德國 PVA 憑借在超聲波掃描顯微鏡領(lǐng)域內(nèi)卓越的領(lǐng)先技術(shù)、穩(wěn)定的產(chǎn)品質(zhì)量、優(yōu)質(zhì)的售后服務，被廣大的中國用戶群所認可和推薦。近年來，德國 PVA 不斷推出擁有獨特功能的、新型尖端超聲波掃描檢測設(shè)備，并在中國市場同步推出。德國 Sentronics 的晶圓膜厚/平整度/弓形/翹曲/粗糙度測量設(shè)備（原 ISIS）以其高度集成的功能于一身，深受廣大用戶喜愛，避免了重復購買設(shè)備的弊端。2016推出的 SemDex 600 最大檢測范圍 600 * 600mm.展會： 2017 上海Semicon 時間： 2017年3月14日星期二 - 3月16日星期四地點：上海浦東新國際展覽中心上海浦東龍陽路2345號展位號：W3 館- 3619展出機型:1. 德國 PVA - SAM 300 Basic - 新款機型，配置最新 Winsam 8 操作軟件2. 德國 PVA - SAM 300 UltraTec - 前后雙探頭、超高速 (最快掃描速度 2000mm/ 秒)、同時配置 Winsam 5.8 + Winsam 8 操作軟件3. 德國 Sentronics 晶圓膜厚測試儀 SemDex 151- 桌上型特此邀請, 真誠期待您的光臨！

2017-03-05

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2020 上海SEMICON 展會盛況

2020 上海SEMICON 展會盛況時間： 2020年6月27日星期六——6月29日星期一地點：上海浦東新國際展覽中心上海浦東龍陽路 2345號展位號： E3-3119. 德國 PVA 超聲掃描顯微鏡此次參展設(shè)備: 1. 主流機型：SAM 301 2. 高端機型：SAM 302 HD2 l 具有HiSA 高速實時自動聚焦系統(tǒng) （針對5mm以內(nèi)翹曲樣品，Z 軸一邊掃描一邊上下實時移動聚焦，）l DTS 高分辨率動態(tài)透射- 40MHz 透射接收探頭l 前后雙探頭

2020-07-02

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2019年4月25日先進封裝技術(shù)論壇

2020-07-02

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科視達攜手德國PVA TePla 參展2019 上海SEMICON

我們科視達®和德國 PVA TePla廠商誠摯邀請您光臨2019年3月20日至3月22日隆重召開的“2019 上海Semicon 展會” 時間：2019年3月20日星期三 - 3月22日星期五地點：上海浦東新國際展覽中心上海浦東龍陽路 2345號展位號： N3 館 – N3119 PVA TePla & Questar 科視達本次展出機型： 1. SAM 302 HD2 – 超高速實時自動聚焦 HiSA & 高分辨率動態(tài)透射掃描 DTS 2. SAM 301 – Winsam 8軟件新功能展示、圓柱體、管材旋轉(zhuǎn)裝置展示特此邀請，真誠期待您的光臨！蒞臨展位者，均有精美禮品奉上。

2019-03-11

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2016 上海 Semicon 展位盛況-2

2016-03-18

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